產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
介電常數(shù)測(cè)試儀
AB-高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
product
產(chǎn)品分類塑料介電常數(shù)測(cè)試儀源介電常數(shù)、介質(zhì)損耗測(cè)試儀元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。 半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
更新時(shí)間:2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
瀏覽量:1361
高頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x源介電常數(shù)、介質(zhì)損耗測(cè)試儀元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。 半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
更新時(shí)間:2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
瀏覽量:1631
復(fù)合材料高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)試儀元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。 半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
更新時(shí)間:2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
瀏覽量:1425
介電常數(shù)測(cè)試儀及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 AS150/IEC 60250
更新時(shí)間:2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-AB
瀏覽量:1482
液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀介質(zhì)損耗測(cè)試儀元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。 半導(dǎo)體元件:變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析 其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
更新時(shí)間:2025-01-02
產(chǎn)品型號(hào):GCSTD-A/B
瀏覽量:4656